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VandalSemi致力于为FA（失效分析）实验室提供高度自动化的半导体图像量测解决方案，专注于开发适用于SEM（扫描电子显微镜）、TEM（透射电子显微镜）和OM（光学显微镜）图像的自动化测量技术。我们的量测技术不仅具备卓越的精度，还能显著提升分析效率，减少人为误差，实现图片量测自动化。VandalSemi通过领先的图像量测工具，帮助FAB优化生产工艺、提高产品质量，以更加智能化的方式推动行业前进。