VandalSemiMetro

NanoMetro

Precise and Automated Metrology Solutions for the Semiconductor Industry

Precision in metrology

助力半导体自动量测

Vandalmetro在半导体量测领域积累了丰富的经验和技术，并在众多成功个案中展现了其卓越的专业能力。通过其先进的NanoMetro Smart高效量测系统，Vandalmetro能够为半导体制造过程中的关键尺寸控制提供精准可靠的支持。

TEM
量测

SEM
量测

OM
量测

支持Zeiss，Leica，Olympus，Nikon，Keyence，Thermofisher(FEI)，JEOL，Hitachi，Tescan等透射电镜扫描电镜光学显微镜图片量测

Innovative solutions

NanoMetro Smart高效测量系统

NANOMETROSMART高效测量系统是一款专为半导体和材料科学尺寸量测而设计的软件，本量测软件基于客户需求研发，能够帮助用户快速、准确地进行尺寸量测，针对半导体客户需求开发了针对不同类型的量测模板，针对材料科学用户需求开发了简单的粒径尺寸量测统计功能，自动分析量测复杂数据。帮助用户更好地掌握关键尺寸参数，助力研发和制造过程，我们拥有丰富的客户端经验和案例，可以与用户分享，帮助用户更好地了解我们的产品和服务。